CSPM5500系列研究級(jí)掃描探針顯微鏡

CSPM5500系列研究級(jí)掃描探針顯微鏡

  三種型號(hào)： CSPM5500/CSPM5500A/CSPM5500LS 

    CSPM5500掃描探針顯微鏡工作模式簡(jiǎn)介

    環(huán)境檢測(cè)及控制掃描探針顯微鏡顯微鏡

    磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡

    液相掃描探針顯微鏡

    精益求精、信心之選

    納米加工

國(guó)際主流的研究級(jí)專業(yè)儀器，集成原子力顯微鏡(AFM)，橫向力顯微鏡(LFM)，掃描隧道顯微鏡(STM)

分辨率： 原子力顯微鏡：橫向0.2nm，垂直0.03nm（以云母晶體標(biāo)定）

               掃描隧道顯微鏡：橫向0.1nm，垂直0.01nm（以石墨晶體標(biāo)定）

高精度計(jì)量型儀器，采用NanoSensors提供的可溯源于國(guó)際計(jì)量權(quán)威機(jī)構(gòu)PTB的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行校準(zhǔn)

一鍵式快速全程全自動(dòng)進(jìn)樣，無需手動(dòng)預(yù)調(diào)，行程大于30mm，可容納超大樣品，樣品尺寸為：45mm×45mm×30mm

兩級(jí)可讀數(shù)樣品調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，可對(duì)樣品進(jìn)行精確的檢測(cè)區(qū)域定位

一次掃描技術(shù)，圖像分辨高達(dá)4096×4096物理象素，微米級(jí)掃描即可得到納米級(jí)的實(shí)際信息

先進(jìn)PID反饋算法實(shí)現(xiàn)快速高精度作用力控制，確保系統(tǒng)在高速掃描中穩(wěn)定成像，實(shí)際掃描速度提升一個(gè)數(shù)量級(jí)

系統(tǒng)采用10M/100M快速以太網(wǎng)(Fast Ethernet 10/100)或USB 3.0與計(jì)算機(jī)連接，支持固件遠(yuǎn)程升級(jí)

主控機(jī)箱前面板具有16×4液晶顯示屏，系統(tǒng)當(dāng)前狀態(tài)實(shí)時(shí)顯示

具備實(shí)時(shí)在線三維圖像顯示功能，便于用戶在檢測(cè)過程中隨時(shí)直觀獲得樣品信息

集成了多功能，多模式的新型原子力顯微鏡

系統(tǒng)功能

原子力顯微鏡(AFM)：包括接觸、輕敲、相移成像(Phase Imaging)等多種工作模式

橫向力顯微鏡(LFM)：具有摩擦力回路曲線、摩擦力載荷曲線、摩擦力恒載荷曲線等摩擦學(xué)性能分析測(cè)量功能

掃描隧道顯微鏡(STM)：包括恒流模式、恒高模式、I-V曲線、I-Z曲線等

曲線測(cè)量分析功能：力-距離曲線、振幅-距離曲線、相移-距離曲線等

選配功能

納米加工：包括圖形刻蝕模式、壓痕/機(jī)械刻畫、矢量掃描模式、DPN浸潤(rùn)筆模式等

磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡

環(huán)境控制掃描探針顯微鏡

液相掃描探針顯微鏡

導(dǎo)電原子力顯微鏡

掃描探針聲學(xué)顯微鏡

掃描開爾文探針顯微鏡

掃描電容顯微鏡

壓電力顯微鏡

樣品溫度控制系統(tǒng)（控溫范圍：-20～150℃）

樣品加熱系統(tǒng)（控溫范圍：室溫～250℃）